установка со сканированием пластин
- установка со сканированием пластин
- plokštelės žvalgytuvas
statusas T sritis radioelektronika
atitikmenys: angl. wafer scanner
vok. Wafer-Abtaster, m; Wafer-Scanner, m
rus. установка со сканированием пластин, f
pranc. scanner de la tranche, m
Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“.
Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas.
2000.
Look at other dictionaries:
Wafer-Abtaster — plokštelės žvalgytuvas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer scanner vok. Wafer Abtaster, m; Wafer Scanner, m rus. установка со сканированием пластин, f pranc. scanner de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
Wafer-Scanner — plokštelės žvalgytuvas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer scanner vok. Wafer Abtaster, m; Wafer Scanner, m rus. установка со сканированием пластин, f pranc. scanner de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
plokštelės žvalgytuvas — statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer scanner vok. Wafer Abtaster, m; Wafer Scanner, m rus. установка со сканированием пластин, f pranc. scanner de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
scanner de la tranche — plokštelės žvalgytuvas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer scanner vok. Wafer Abtaster, m; Wafer Scanner, m rus. установка со сканированием пластин, f pranc. scanner de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
wafer scanner — plokštelės žvalgytuvas statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. wafer scanner vok. Wafer Abtaster, m; Wafer Scanner, m rus. установка со сканированием пластин, f pranc. scanner de la tranche, m … Radioelektronikos terminų žodynas
температура — 3.1 температура: Средняя кинетическая энергия частиц среды, обусловленная их разнонаправленным движением в среде, находящейся в состоянии термодинамического равновесия. Источник: ГОСТ Р ЕН 306 2011: Теплообменники. Измерения и точность измерений… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации